Szimulátor teszt

A Shenzhen Shenchuang Hi-tech Electronics Co., Ltd. (SChitec) egy csúcstechnológiás vállalkozás, amely telefontartozékok gyártására és értékesítésére szakosodott. Fő termékeink közé tartoznak az utazási töltők, autós töltők, USB-kábelek, tápegységek és egyéb digitális termékek. Minden termék biztonságos és megbízható, egyedi stílusokkal. A termékek megfelelnek a CE, FCC, ROHS, UL, PSE, C-Tick stb. tanúsítványoknak. , Ha felkeltette érdeklődését, forduljon közvetlenül a következőhöz: ceo@schitec.com.

Maradjon biztonságos töltés a SCitec segítségével

Szimulátor teszt

Tesztelje OP AMP-vel. A „Virtuális Föld” fogalma az „a” pontból a következő:

ix=iref

∴Rx {{0}}} Vs/ V0*Rref

Vs és rref a gerjesztési jel forrása és a műszer számítási ellenállása. Ha V0 mérve van, az RX kiszámítható.

Ha a mérendő Rx kapacitás és induktivitás, akkor a vs AC jelforrás, Rx impedancia forma, és C vagy l is számítható.

1.2 őrzés

A fenti vizsgálati módszer független eszközökre vonatkozik, de a tényleges áramkörben lévő eszközök össze vannak kötve és kölcsönhatásba lépnek egymással, így a IX 笽 ref-t a vizsgálat során le kell választani. Az izolálás az online tesztelés alapvető technológiája.

A felső áramkörben az R1 és R2 kapcsolódási söntje miatt a IX 笽 ref, RX=vs / V0 * rref egyenlete nem érvényes. A tesztben mindaddig, amíg G és F azonos potenciálon vannak, nem folyik áram az R2-n, és továbbra is fennáll az IX=Iref egyenlete, az RX változatlan marad. Ha a G pont földelt, akkor a leválasztás megvalósítható, mivel az f pont gyakorlatilag földelt, és két pont potenciálja egyenlő. A gyakorlatban G és F ekvipotenciális egy leválasztott műveleti erősítőn keresztül. Az ICT-tesztelő számos szigetelési pontot biztosít, hogy kiküszöbölje a perifériás áramkör hatását a tesztre.

1.2 IC teszt

Digitális IC-hez használjon vektortesztet. A vektorteszt hasonló az igazságtáblázat méréséhez, amely gerjeszti a bemeneti vektort, méri a kimeneti vektort, és a tényleges logikai függvényteszten keresztül ítéli meg az eszköz minőségét.

Például: NAND-kapu tesztje

Az analóg IC teszteléséhez a megfelelő kimenet az IC tényleges funkciógerjesztési feszültsége és árama szerint mérhető, amely funkcióblokk tesztnek tekinthető.

Nem vektoros teszt

A modern gyártástechnológia fejlődésével és a VLSI használatával gyakran sok időt vesz igénybe az eszközök vektorteszt programjának megírása, mint például a 80386 tesztprogram, ami egy szakképzett programozónak közel fél évet vesz igénybe. Az SMT-eszközök széleskörű alkalmazásának köszönhetően az eszköztüskék szakadt áramkörének hibajelensége egyre hangsúlyosabbá válik. Emiatt a Teradyne elindította az Xpress nem vektoros teszttechnológiáját, amelyet a Multiscan vezet be; GenRad.

2.1 delta scan analóg csomópont teszt technológia

A Deltascan ESD-védelmet vagy parazita diódákat használ, amelyek a digitális eszközök szinte összes tűjén és a vegyes jelű eszközök legtöbb érintkezőjén tesztelik a vizsgált eszközök független tűpárjainak egyenáramát. Ha egy kártya áramellátása megszakad, az alábbi ábrán az eszköz két érintkezőjének megfelelő áramköre látható.

1.adjunk negatív feszültséget az a érintkező testére, és az ia áram átfolyik az a láb előfeszítő diódáján. Mérjük meg az ia áramerősséget az a tűn keresztül.

2 fenntartja az a láb feszültségét, adjon hozzá egy nagyobb negatív feszültséget a B érintkezőhöz, és az IB áram átfolyik a B érintkező előfeszítő diódáján. Az IA áram csökken az a és a láb közös hordozó ellenállásán belüli árammegosztás miatt. B érintkezőt a földre.

3 Mérjük meg újra az ia áramot az a tűn keresztül. Ha az ia nem változik (delta), amikor a feszültséget a B érintkezőre kapcsoljuk, akkor csatlakozási probléma lehet.

A Deltascan szoftver szintetizálja az eszköz számos lehetséges tűpárjából kapott teszteredményeket, hogy pontos hibadiagnózist kapjon. A jelérintkező, a tápegység és a földelő érintkező, valamint a szubsztrát egyaránt részt vesz a deltascan tesztben, ami azt jelenti, hogy a tűk leválasztása mellett a deltascan gyártási hibákat is képes észlelni, mint például az eszköz hiánya, a fordított behelyezés és a vezeték leválasztása.

A GenRad típusú teszteket junction Xpress-nek nevezik. A dióda karakterisztikáját is használja az IC-ben, de a teszt a dióda spektrumkarakterisztikájának (második harmonikus) mérésével valósul meg.

A Deltascan technológia az első olyan technológia, amely nem tartalmaz további rögzítő hardvert.

2.2 Framescan kapacitás csatolási tesztje

A Framescan kapacitáscsatolást használ a tűk szétkapcsolásának észlelésére. Minden eszközön van egy kapacitív szonda. Amikor egy tű gerjeszti a jelet, a kapacitív szonda felveszi a jelet. Az ábrán látható módon:

1. A készüléken lévő többcsatornás kapcsolótábla kiválasztja az eszköz kapacitív szondáját.

2 a teszterben lévő analóg tesztkártya (ATB) váltóáramú jelet küld minden érintkezőnek.

3. A kapacitív szonda összegyűjti és puffereli az AC jelet a vizsgált tűn.

4 Az ATB a kapacitív szonda által felvett váltakozó áramú jelet méri. Ha egy érintkező megfelelően van csatlakoztatva az áramköri laphoz, a jel mérésre kerül; ha a tű le van választva, nem lesz jel.

A GenRadhoz hasonló technológiát nyílt Xpressnek hívják. Az elv hasonló.

Ehhez a műszaki berendezéshez érzékelőkre és egyéb hardverekre van szükség, és a teszt költsége valamivel magasabb.